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Servicios Microscopia de Fuerza Atómica 14 de octubre de 2004 Desde 2003 el Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona del CSIC cuenta con la instalación de Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM). Esta tecnica permite visualizar los materiales y muchas de sus propiedades con una extraordinaria resolución espacial. Su funcionamiento se basa en la detección de las minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre una punta y la superficie del material a estudiar.
La Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM) permite visualizar los materiales y muchas de sus propiedades con una extraordinaria resolución espacial. Su funcionamiento se basa en la detección de las minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre una punta y la superficie del material a estudiar. Explicado de forma sencilla, se trata de una aguja minúscula (apenas 5 nanómetros) que va recorriendo a cierta distancia la superficie de un material y midiendo la fuerza de los átomos del material.
Desde el pasado 2003, el Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona cuenta con una instalación de este tipo. La ventaja que presenta la microscopia de fuerza atómica es que permite elaborar con facilidad mapas topográficos en tres dimensiones, con resolución nanométrica en el plano de la muestra y resolución atómica en la dirección perpendicular a la misma. La técnica es muy versátil y permite medir fuerzas de diverso origen que informan sobre propiedades funcionales tales como la conductividad eléctrica, el magnetismo o la respuesta de un material a un campo eléctrico. "Si ponemos una aguja magnética", explica un responsable del laboratorio del ICMAB, " podemos medir el magnetismo; con una aguja conductora, se mide la conductividad eléctrica",
El Laboratorio de Microscopia de Fuerzas Atómicas del Instituto de Ciencias de Materiales de Barcelona permite efectuar la caracterización nanoestructural de materiales de naturaleza muy diversa (cerámicas, polímeros, metales...). Esta unidad científico-tecnológica ofrece un servicio multidisciplinar y dinámico a los grupos de investigación que integran el Instituto de Ciencias de Materiales de Barcelona así como, a través del servicio externo, a los usuarios de otros organismos.
Debajo, ejemplos del Laboratorio AFM. De izquierda a derecha: Material superconductor de itrio y bario utilizado para desarrollar cables superconductores de alta potencia. Lámina delgada de manganita de lantano, material usado en dispositivos magnetoelectrónicos. Análisis estructural y funcional de poli(isocianuro)s, polímeros que se usarán como nanohilos conductores. Fotos: AFM- ICMAB.
El Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona convoca la segunda edición del concurso Fotciencia
El ICMAB tiene una larga tradición en el uso de técnicas para caracterizar los materiales, algunas de las cuales permiten obtener no sólo información esencial del material sino imágenes de gran interés.
Esto es lo que les ha llevado a incluir entre sus propuestas para la Semana de la Ciencia el concurso Fotciencia, cuya segunda edición se convoca este año. Puede participar cualquier persona que no sea profesional de la fotografía y que aporte una imagen relacionada con la ciencia y sobre cualquier temática. Las categorías de imagen son dos: NANO, en la que pueden participar imágenes de 1 nanómetro a 10 milímetros; y MACRO, de 10 milímetros a infinito. Las bases están en la web del Instituto (http://www.icmab.es/fotciencia04/) y se puede participar hasta el 11 de noviembre de 2004.
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